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TEM 日本200kV场发射透射电子显微镜
添加时间:2015-12-10  查看: 1672次    来源: 哲博检测
仪器简介:

JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 


利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。 

JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 

SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。 

技术参数:
1.点分辨率:0.19nm 
2.线分辨率:0.14nm 
3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV 
4.倾斜角:25 
5.STEM分辨率:0.20nm 




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